Hiển thị đơn giản

Hiển thị ISBD

Hiển thị đầy đủ

Hiển thị MARC

Dữ liệu biên mục

Dạng tài liệu: Thông tin mô tả: Dohi Tadashi Advanced Reliability Modeling : Proceedings of the 2004 Asian International Workshop (AIWARM 2004), Hiroshima, Japan, 26 - 27 August 2004 / Dohi Tadashi, Yun Won Young Singapore: World Scientific, 2004 627 tr.; 24

Dữ liệu xếp giá

Tổng số bản:  0 Số bản rỗi:  0  (kể cả các bản được giữ chỗ) Số bản được giữ chỗ:  0 Chia sẻ: Không có thông tin xếp giá

Mục từ truy cập

Tác giả: Dohi Tadashi, Yun Won Young DDC: 620.004 52 Từ khoá: Công nghệ nano Tiêu đề đề mục: Công nghệ Nano

Số liệu bổ sung tổng hợp ấn phẩm định kỳ Chi tiết

Ấn phẩm liên quan đang được bạn đọc mượn

Lạnh đông rau quả xuất khẩu / Trần Đức Ba Web design index 7 (Kèm 1 CD) / Beer Gunter Văn hóa dân gian về tình yêu lứa đôi trong ca dao người Việt / Nguyễn Nghĩa Dân

Bình phẩm, bình luận

Họ tên:   (*) Yêu cầu nhập Họ tên Email:   (*) Yêu cầu nhập Email Yêu cầu nhập đúng định dạng Email, ví dụ: nguoidung@com.vn Nội dung:   (*) Yêu cầu nhập Nội dung bình phẩm, bình luận Mã xác nhận:    Refresh  (*) Yêu cầu nhập Mã xác nhận

STT Ngày bình luận Họ tên Nội dung 1. 29/08/2022 14:45:37 Huỳnh Hoàng Hải yêu cầu thư viện mua thêm nhiều sách tâm lý học 2. 21/02/2022 08:28:24 Nguyễn Quỳnh Như em muốn đăng kí mượn sách nhưng không có số thẻ với mật khẩu thì cần đăng kí ở đâu ạ 3. 14/06/2021 10:36:57 Phạm Tiệp Nghiên cứu 4. 24/04/2021 01:03:11 Trương Ngọc Loan đăng ký xem chi tiết , vui lòng hướng dẫn, xin cảm ơn